智能手機和平板電腦設(shè)備內(nèi)部開始廣泛采用MIPI、USB、HDMI、MHL、DP、LPDDR、UFS等高速數(shù)字接口，同時功耗的降低是所有廠家共同關(guān)心的話題，小巧的體積內(nèi)包含眾多無線、射頻、模擬和數(shù)字信號，EM/EMC和干擾也是一個需要關(guān)注的領(lǐng)域。

LPDDR總線移動設(shè)備中多采用并行總線LPDDR2和LPDDR3，其電壓信號擺幅比傳統(tǒng)DDR2，DDR3更低，物理層測試，對示波器有四個方面的要求。

-   需要示波器的本底噪聲和固有抖動都比較小，Infinium S系列10比特示波器和90000系列示波器具有業(yè)內(nèi)最小的本底噪聲和固有抖動，最平坦的帶內(nèi)頻響特性，適合這種應用。

-   能夠方便地實施讀寫信號分離，如果使用DSO，則需使用InfiniScan,否則需使用MSO；而且一旦眼圖模板測試出現(xiàn)問題，可使用SDA選件將眼圖展開，定位到引起Fail的波形段。

-   JEDEC規(guī)定了很多參數(shù)，N5431B和U7231B將所有測試項目實現(xiàn)自動化測量。

-   電源信號完整性測量，LPDDR2，LPDDR3電源測試需要較高的帶寬，N7020A2GHz1:1探頭，可精確量測毫伏級的信號，并分析串擾帶來的誤差。

而LPDDR2，LPDDR3的協(xié)議層測試，則推薦使用U4154B邏輯分析儀。

-   B4623B協(xié)議解碼軟件，幫助用戶看到DDR總線上傳輸?shù)臄?shù)據(jù)B4622B協(xié)議一致性測試軟件檢查LPDDR2，LPDDR3上是否有協(xié)議錯誤，并生成協(xié)議測試的報告。

功耗測試和驗證是德科技的N67058直流電源綜測儀，可以長時間監(jiān)測智能設(shè)備的充放電；而示波器，配合N2820A或N2821A小信號測試探頭，可同時觀察關(guān)鍵芯片和整機的功耗，其最小可測電流是500nA，最小可測電壓是3uV，并可直接給出庫倫測量值。對于待

機時間功耗測試，只有這種探頭才可完成測量，傳統(tǒng)的探頭，僅能測量毫安和毫伏級別的信號，而一般手機的待機電流在100微安左右。

EMI/EMC預調(diào)試EMl問題的產(chǎn)生常來自開關(guān)電源、液晶屏、金屬屏蔽殼的靜電、電源濾波等。真正的EMI/EMC測試應該使用基于頻譜分析儀的方案，但示波器可用在預調(diào)試階段，尤其是InfiniumS系列10比特示波器，其SFDR無雜散動態(tài)范圍比8比特示波器高10dBc左右，再加上Infinium示波器同時支持多達8個FFT窗口的分析，支持FFT模板測試，與頻譜儀相比亦尤其獨特之處，因此可以用在預調(diào)試階段，探頭則可使用N9311X-110近場探頭，支持100KHz~3GHz頻段。

串行總線的測試和驗證低速串行總線，可以使用低價位的Infini/ision 2000X,3000X,4000X,6000×系列示波器，但對于高速串行總線，比如USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、UFS、MHL、UHSl1等，不僅需使用Infinium系列示波器完成發(fā)射端一致性測試，還需要BERTM8000或AWG8190A完成接收端的測試，對于中間的線纜連接器和PCB，則建議使用ENA-TDR，因為ENA-TOR沒有靜電問題，而且有個獨特的功能，可以在被測對象加電的情況下完成測試。

對發(fā)射端測試，Infinium示波器不僅僅停留在一致性測試，眼圖模板一旦失敗，它還能將眼圖展開，告訴工程師眼圖失敗對應的具體波形位置，該位置對應的協(xié)議解碼以及信號抖動情況，Infinium示波器可以同時對波形的16個位置同時分析和比較。

在協(xié)議層，固然可使用示波器的協(xié)議解碼功能，只不過這時需要示波器很深的存儲深度，比如HDMl協(xié)議分析就建議示波器的存儲深度至少達500M點。即便如此，示波器的協(xié)議解碼仍無法替代是德科技的協(xié)議分析儀，如MIPIUFS協(xié)議分析不僅有分析還有激勵，只有這樣

才能完成協(xié)議一致性測試，也就是根據(jù)規(guī)范的協(xié)議定義，對比實測結(jié)果，給出Fail/Pass信息，并指出Fail的具體位置。在智能設(shè)備測試領(lǐng)域，是德科技的協(xié)議分析儀包括MIPI D-PHY,M-PHY，UFS，LPDDR 2,LPDDR3等。

電源完整性測試智能手機或平板中的電源分配網(wǎng)絡(luò)要支持各種電壓的直流電源（如：+-5V,+1.5V,+1.8V,+1.2V等），給CPU供電，給各個芯片供電。CPU和IC用電量很大，而且是動態(tài)耗電的，瞬時電流可能很大，也可能很小，但是電壓必須平穩(wěn)（即紋波和噪聲必須較小），以保持CPU和IC的正常工作。這都對電源分配網(wǎng)絡(luò)提出了苛刻的要求，對工程師而言，電源設(shè)計和電源完整性測試是很重要的工作，是德科技在這方面積累了大量的技術(shù)和測試方案，包括電源完整性仿真、電源完整性時域測試、電源完整性頻域測試，后面兩部分可參見前面的“微小信號和電源測試“部分。